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當前位置：首頁  >  產品中心  >  導電材料絕緣性能試驗類  >  介質損耗（介電常數(shù)）

  • HJS-I介質損耗（介電常數(shù)）測試系統(tǒng)

    高頻介質損耗（介電常數(shù)）測試系統(tǒng)依據(jù)國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及電工委員會IEC60250的規(guī)定設計制作。系統(tǒng)提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值（tanδ）和介電常數(shù)（ε）自動測量的*佳解決方案。

    時間：2024-06-04
    型號：HJS-I
    廠商性質：生產廠家
    瀏覽量：2678
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